VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070

  • Opis produktu
  • Specyfikacja
  • Do pobrania

Vacuum Test Fixture - profesjonalne stanowisko testowe z systemem podciśnieniowym, wykorzystywane do automatycznego, równomiernego i bezpiecznego dociskania płytek drukowanych (PCB) do zestawu sond testowych. Działa na zasadzie wytwarzania podciśnienia, które umożliwia precyzyjne i stabilne połączenie pomiędzy testowanym układem a sondami kontaktującymi w fixture, bez potrzeby stosowania nacisku ręcznego lub mechanicznego docisku sprężynowego. Zaprojektowany dla wysokiej powtarzalności, niezawodności i minimalizacji uszkodzeń mechanicznych, system VA sprawdza się w zautomatyzowanych liniach produkcyjnych oraz laboratoriach testowych, gdzie testowane są serie płytek drukowanych w standardzie masowym lub precyzyjnym (fine pitch).

 

Kluczowe właściwości:

  1. Zasada działania oparta na podciśnieniu – zapewnia równomierny, bezpieczny docisk PCB do matrycy testowej.
  2. Brak konieczności nacisku ręcznego lub mechanicznego – eliminuje ryzyko uszkodzenia płytek przez nadmierną siłę.
  3. Idealne dopasowanie do aplikacji wielopunktowych – umożliwia kontaktowanie setek punktów testowych jednocześnie.
  4. Cicha i bezwibracyjna praca – poprawia komfort obsługi i redukuje drgania wpływające na pomiar.
  5. Możliwość zastosowania różnych typów interfejsów (ESD, RF, high current, hybrid) – elastyczność systemu testowego.
  6. Długi cykl życia fixture’a – brak sił mechanicznych wydłuża żywotność komponentów.
  7. Zgodność z platformami testującymi INGUN – łatwa integracja z systemami ATE i ICT/FCT.

Zastosowanie:

  1. Masowe testowanie płytek PCB – kontaktowanie wielu punktów sygnałowych i zasilających jednocześnie.
  2. Testy funkcjonalne (FCT) – weryfikacja poprawności działania gotowych modułów elektronicznych.
  3. In-Circuit Test (ICT) – testowanie połączeń i komponentów montowanych na płytkach.
  4. Produkcja elektroniki konsumenckiej i przemysłowej – szybki i powtarzalny test seryjny.
  5. Linie SMT i THT – automatyczne testowanie po montażu elementów.
  6. Strefy EPA i środowiska ESD – testowanie układów wrażliwych na wyładowania elektrostatyczne.
  7. Zastosowania precyzyjne (fine pitch) – kontaktowanie układów o bardzo drobnych padach i ścieżkach.

Zalety i wady:

 

Zalety:

  1. Delikatne i precyzyjne kontaktowanie – brak uszkodzeń mechanicznych PCB.
  2. Wysoka powtarzalność i stabilność testu – idealne dla środowisk produkcyjnych.
  3. Dostosowanie do różnych geometrii testowanych układów – elastyczność konstrukcyjna.
  4. Cicha praca – komfortowe użytkowanie nawet w pomieszczeniach laboratoryjnych.
  5. Wydłużona trwałość fixture’a – brak ścierania i zużycia mechanicznego.

Wady:

  1. Wymaga zewnętrznego źródła podciśnienia – konieczność instalacji dodatkowego systemu ssącego.
  2. Wyższy koszt inwestycyjny niż standardowe fixture’y sprężynowe – specjalistyczna technologia podciśnieniowa.
  3. Ograniczone zastosowanie w testach o bardzo dużym nacisku kontaktowym – np. w testach wysokoprądowych bez styków przystosowanych do VA.
  4. Mniejsza mobilność – wymaga instalacji w konkretnym stanowisku.
  5. Konieczność precyzyjnego projektowania płyty kontaktującej – dla zachowania szczelności i równomiernego ciśnienia.

Podsumowanie:

 

Vacuum Test Fixture to nowoczesne, niezawodne i delikatne rozwiązanie do testowania płytek PCB, które eliminuje potrzebę mechanicznego docisku, redukuje zużycie fixture’a i zwiększa bezpieczeństwo testowanych układów. Dzięki cichej pracy, wysokiej dokładności oraz kompatybilności z różnorodnymi interfejsami testowymi, fixture VA znajduje zastosowanie w masowej produkcji elektroniki, liniach SMT oraz laboratoriach testowych. Choć wymaga inwestycji w system podciśnienia i odpowiedniej integracji, to dzięki trwałości i jakości testu jest opłacalny w aplikacjach precyzyjnych i wielkoseryjnych.

  • Product group :

    Vacuum test fixture (VA)

  • Main series :

    VA xxxx

  • Subseries :

    VA 30xx

  • Series :

    VA 3070S

  • Size :

    xx70S

  • Test fixture type :

    Small stand-alone fixture, additional contacting unit, Keysight

  • Contact stroke generation :

    Vacuum

  • Housing type :

    Flat housing

  • Contacting direction :

    ICT/FCT bottom, top

  • Max. contact force :

    13000 N

  • Approx. parallel contact stroke :

    12 mm

  • Test system interface :

    Keysight i3070, small

  • Weight :

    32 kg

  • Min. Temperature :

    + 10 °C

  • Max. Temperature :

    + 60 °C

  • RoHS-compliant :

    RoHS-3;6a;6c

  • Test probe installation height, bottom :

    16 mm

  • Test probe installation height, dual-stage, bottom :

    21.5 mm

  • Standard version :

    Yes

  • ESD version :

    No

  • Radio frequency version :

    No

  • Rigid pin version :

    No

  • Dual-stage version :

    Yes

  • Additional contacting unit (ZSK), top :

    Yes

  • Outer dimensions, closed (WxDxH) :

    631 x 534 x 209 mm

  • Max. interface signals :

    3552

  • Interface blocks required :

    No

  • Low voltage :

    No

  • ESD-compliant :

    No

  • Pushrod length :

    15 mm

  • Test probe installation height, top :

    16 mm

  • Free space above PCB :

    10 mm

  • Useable area, additional contact unit (WxD) :

    260 x 300 mm

  • Test probe installation height. dual-stage, top :

    21.5 mm