V0406B230G15
Kod towaru: 1014005
Opis: Connector / Wire harness testing probes, V04, V04
- Opis produktu
- Specyfikacja
- Do pobrania
Push-back probes
Specjalistyczne sondy kontaktowe stosowane w systemach testowych do kontroli poprawnego osadzenia terminali w obudowie złącza. Ich zadaniem jest nie tylko uzyskanie kontaktu elektrycznego, ale również potwierdzenie, czy styk nie cofa się pod naciskiem i pozostaje prawidłowo zablokowany w gnieździe. Tego typu rozwiązania są wykorzystywane szczególnie w testach wiązek przewodów i złączy, gdzie liczy się powtarzalność, precyzja oraz pewność wykrycia błędów montażowych.
Kluczowe właściwości:
- Kontrola poprawnego osadzenia terminala – push-back probes służą do sprawdzania, czy kontakt w złączu został właściwie zatrzaśnięty i nie przemieszcza się pod naciskiem roboczym. Dzięki temu pomagają wykrywać błędy montażowe, które mogłyby pozostać niewidoczne przy zwykłym teście ciągłości.
- Funkcja mechaniczno-elektryczna – sonda wykonuje ruch roboczy, który może współpracować z dodatkowym stykiem testowym lub przełączającym umieszczonym poniżej. Pozwala to jednocześnie oceniać pozycję elementu oraz potwierdzać prawidłowy stan połączenia.
- Konstrukcja nierotacyjna – push-back probes są projektowane jako sondy nierotujące, co ma duże znaczenie przy kontakcie z blaszkami i wydłużonymi powierzchniami styku. Taka budowa zwiększa stabilność testu i ogranicza ryzyko nieprawidłowego ułożenia końcówki.
- Przystosowanie do końcówek specjalnych – dzięki nierotacyjnej pracy mogą współpracować z końcówkami łopatkowymi i innymi wariantami dopasowanymi do geometrii złącza. To ułatwia testowanie terminali o specyficznym kształcie i zwiększa dokładność kontaktu.
- Wysoka powtarzalność działania – w aplikacjach testowych istotna jest stabilna pozycja sondy i przewidywalna charakterystyka ruchu. Push-back probes są stosowane tam, gdzie wymagane jest powtarzalne odwzorowanie warunków nacisku i kontroli blokady styku.
- Praca w systemach modułowych i adapterach testowych – rozwiązania tego typu są integrowane z przyrządami testowymi, stołami do kontroli wiązek oraz adapterami pomiarowymi. Ułatwia to budowę stanowisk do seryjnej kontroli jakości połączeń elektrycznych.
- Dostępność różnych wersji wykonania – producenci oferują push-back probes w wielu seriach, rastrach i wariantach montażowych, w tym wersjach wkręcanych oraz z systemem szybkiej wymiany. Pozwala to dobrać sondę do konkretnej geometrii złącza i wymagań stanowiska testowego.
Zastosowanie:
- Testowanie wiązek przewodów – push-back probes są szeroko stosowane w kontroli wiązek kablowych, gdzie trzeba zweryfikować nie tylko obecność połączenia, ale też poprawne osadzenie terminali w obudowie złącza. To ważny etap w produkcji seryjnej i kontroli końcowej.
- Kontrola złączy elektrycznych – sondy te sprawdzają, czy terminal nie został wsunięty zbyt płytko albo nie cofa się podczas nacisku. Dzięki temu wspierają ocenę jakości montażu złączy w aplikacjach przemysłowych i elektronicznych.
- Stanowiska testowe w produkcji – znajdują zastosowanie w przyrządach kontrolnych używanych na liniach montażowych, gdzie wymagana jest szybka i powtarzalna weryfikacja komponentów. Dobrze wpisują się w procesy automatyzacji testów jakościowych.
- Testy funkcjonalne i montażowe – mogą być wykorzystywane wszędzie tam, gdzie oprócz kontaktu elektrycznego trzeba potwierdzić poprawną pozycję elementu w złączu. Takie podejście zwiększa skuteczność wykrywania usterek montażowych przed wysyłką produktu.
- Systemy kontroli jakości w branży elektrotechnicznej – push-back probes wspierają procedury testowe w produkcji podzespołów elektrycznych, gdzie precyzja pozycjonowania i pewność kontaktu mają kluczowe znaczenie. Sprawdzają się w środowiskach wymagających wysokiej niezawodności pomiaru.
- Weryfikacja terminali z blaszkami stykowymi – konstrukcja nierotacyjna pozwala skutecznie kontaktować elementy o wydłużonym lub płaskim profilu. To szczególnie przydatne przy testowaniu styków wymagających kontrolowanego ustawienia końcówki roboczej.
- Przyrządy do specjalistycznych testów połączeń – mogą być elementem rozbudowanych adapterów i modułów pomiarowych, w których liczy się zarówno wykrycie sygnału, jak i reakcja mechaniczna sondy. Umożliwia to bardziej zaawansowaną diagnostykę poprawności montażu.
Podsumowanie:
Push-back probes to zaawansowane sondy testowe przeznaczone do kontroli poprawnego osadzenia terminali w złączach oraz wykrywania cofania styków podczas nacisku roboczego. Dzięki nierotacyjnej konstrukcji, wysokiej powtarzalności działania i możliwości współpracy z układami testowymi stanowią ważny element nowoczesnych stanowisk kontrolnych.
-
Design
Basic Contact Probe
-
Family
V04
-
Seria
V04
-
Grid size [mm]
4,00
-
Grid size [MIL]
157
-
Temperature
-45°C…+100°C
-
Total length [mm]
82,00
-
Projection height [mm]
23,50
-
Tip style diameter [mm]
2,30
-
Barrel diameter [mm]
3,00
-
Tip style
06
-
Plunger material
Beryllium copper
-
Plunger plating
Gold
-
Barrel material
Brass
-
Barrel plating
Gold
-
Spring material
Spring steel
-
Spring plating
Silver
-
Preload [cN]
4,00
-
Spring force [cN]
15,00
-
Working stroke [mm]
9,50
-
Max. stroke [mm]
10,00
-
Pointing accuracy +/- [mm]
0,10
-
Typical contact resistance [mOhm]
30,00
-
Current rating [A]
8,00
-
Current rating [A] 2
1,00
-
Producent
Feinmetall
-
Press ring diameter [mm]
3,60
-
Tool size [mm]
2,50
-
C – pin length [mm]
2,50
-
Collar diameter [mm]
3,60