I-Z1

Interface probes - specjalistyczne sondy połączeniowe, stosowane przede wszystkim jako elementy łączące pomiędzy fixturem testowym a zewnętrznym interfejsem testera ATE (Automated Test Equipment). Umożliwiają one pewne, wielokrotne i trwałe połączenie sygnałowe i prądowe pomiędzy modułami testującymi a urządzeniem testowanym (DUT), zapewniając niezawodność i powtarzalność pomiarów w środowisku produkcyjnym.Interface probes są projektowane z myślą o dużej trwałości i cykliczności pracy – często osiągają żywotność setek tysięcy, a nawet milionów cykli. Dzięki temu stanowią kluczowy element w zautomatyzowanych liniach produkcyjnych, fixture’ach wielokanałowych oraz systemach testowania masowego, gdzie jakość połączenia ma bezpośredni wpływ na efektywność testu.

Kluczowe właściwości:

1. Wysoka trwałość mechaniczna – przystosowane do wielokrotnego użytkowania w środowiskach o wysokiej intensywności pracy.
2. Niski opór kontaktowy – zapewnia czysty, stabilny sygnał bez zakłóceń.
3. Różne konfiguracje pinów i obudów – możliwość dopasowania do konkretnego interfejsu lub adaptera.
4. Szybki montaż i wymiana – kompatybilność z uchwytami testowymi i płytami pośrednimi.
5. Dostępność wersji sygnałowych, prądowych i mieszanych – obsługa zarówno niskonapięciowych sygnałów, jak i linii zasilających.
6. Odporność na zużycie i drgania – stabilna praca nawet w fixture’ach z ruchem mechanicznym.
7. Zgodność z popularnymi systemami ATE – możliwość integracji z testerami ICT/FCT i niestandardowymi adapterami.

Zastosowanie:

1. Połączenie fixture – tester ATE – transmisja sygnałów pomiarowych, sterujących i zasilających.
2. Zautomatyzowane systemy testowe – testy końcowe urządzeń elektronicznych (End of Line).
3. Moduły interfejsowe w liniach produkcyjnych – umożliwienie szybkiej wymiany fixture’ów bez utraty jakości połączenia.
4. Testowanie płytek PCB i modułów – transmisja danych do i z testowanego układu.
5. Systemy wielokanałowe – obsługa wielu jednoczesnych połączeń w urządzeniach o dużym zagęszczeniu pinów.
6. Projekty R&D i prototypowanie – szybkie połączenia testowe między różnymi blokami funkcjonalnymi.

Zalety i wady:

Zalety:

1. Wysoka niezawodność i powtarzalność – idealne do aplikacji seryjnych i masowych testów.
2. Uniwersalność konfiguracji – możliwość dostosowania do różnych testerów i aplikacji.
3. Niska rezystancja i stabilne parametry elektryczne – gwarantują dokładne wyniki pomiarów.
4. Szybka wymienność – ułatwia serwisowanie i rekonfigurację stanowisk testowych.
5. Długa żywotność – znoszą setki tysięcy cykli bez pogorszenia parametrów.

Wady:

1. Wyższy koszt początkowy – precyzja wykonania i trwałość wpływają na cenę jednostkową.
2. Wymagają precyzyjnego montażu – niewłaściwe osadzenie może obniżyć jakość sygnału.
3. Zależność od standardu fixture’a – konieczność zgodności mechanicznej i elektrycznej z danym systemem.
4. Potencjalna potrzeba regeneracji kontaktów po długim czasie – w aplikacjach wysokocyklicznych.
5. Ograniczona elastyczność przy bardzo niestandardowych układach testowych – może być konieczne zamówienie wersji niestandardowej.

Podsumowanie:

Interface probes to kluczowy element systemów testowych, zapewniający stabilne, trwałe i powtarzalne połączenie pomiędzy fixturem a testerem. Dzięki wysokiej precyzji wykonania, odporności mechanicznej oraz szerokiej gamie dostępnych konfiguracji, są niezastąpione w automatycznych liniach produkcyjnych, systemach testowania masowego oraz aplikacjach wymagających maksymalnej niezawodności transmisji sygnału. Choć wymagają precyzyjnej integracji i są droższe od standardowych sond, ich niezawodność i jakość kontaktu przekładają się na niższe koszty serwisu i wysoką efektywność produkcji.